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光學(xué)儀器及設(shè)備

光學(xué)顯微鏡

光學(xué)計(jì)量?jī)x

晶圓檢測(cè)儀

顆粒檢測(cè)儀

橢圓偏光儀

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晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
HMI eScan 315 晶圓檢測(cè)儀是一款由HMI公司制造的自動(dòng)化晶圓和掩模檢查設(shè)備，旨在為圖案化晶圓和光罩檢查過程提供經(jīng)濟(jì)高效的解決方案。該系統(tǒng)采用專有的P...
型號(hào)： eScan 315 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

自動(dòng)化晶圓掩模檢查圖案化晶圓光罩檢查全面的缺陷審查

2024/9/23 20:58:59340
光學(xué)顯微鏡參考價(jià)：面議
OLYMPUS AL3110 光學(xué)顯微鏡是一款多功能的顯微鏡，適用于多種應(yīng)用領(lǐng)域.OLYMPUS AL3110 顯微鏡設(shè)計(jì)用于提供高精度和圖像質(zhì)量，廣泛應(yīng)用于生...
型號(hào)： AL3110 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

多功能OLYMPUS/奧林巴斯高精度高分辨率CCD相機(jī)機(jī)動(dòng)聚焦

2024/9/23 20:57:16250
光學(xué)顯微鏡參考價(jià)：面議
OLYMPUS AL2100 光學(xué)顯微鏡是一款高性能的顯微鏡，具有多種功能和用途。AL2100顯微鏡具有明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏振光、熒光和相位對(duì)比度成像能力。它還配備了...
型號(hào)： AL2100 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

放大倍率范圍從5倍到1000倍明場(chǎng)暗場(chǎng)200mm晶圓檢測(cè)OLYMPUS/奧林巴斯

2024/9/23 20:54:50322
光學(xué)顯微鏡參考價(jià)：面議
OLYMPUS AL2000 光學(xué)顯微鏡是一款由奧林巴斯公司生產(chǎn)的顯微鏡，具有多種應(yīng)用和功能。此顯微鏡特別適用于晶圓檢測(cè)，是一種晶圓檢查顯微鏡，適用于半導(dǎo)體行業(yè)...
型號(hào)： AL2000 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

奧林巴斯通用顯微鏡高速掃描高級(jí)照明明場(chǎng)和暗場(chǎng)模式

2024/9/23 20:52:24322
光學(xué)顯微鏡參考價(jià)：面議
OLYMPUS AL120 光學(xué)顯微鏡是一種用于半導(dǎo)體晶圓搬送及檢測(cè)的顯微鏡系統(tǒng)，具有多種型號(hào)和配置，以滿足不同尺寸和需求的晶圓處理。
型號(hào)： AL120 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

半導(dǎo)體晶圓搬送及檢測(cè)奧林巴斯MX專業(yè)晶圓檢查顯微鏡微分干涉（DIC）近紅外線（IR）深紫外線（DUV）

2024/9/23 20:50:16279
光學(xué)顯微鏡參考價(jià)：面議
Nikon OST 3200 光學(xué)顯微鏡是一款多功能的光學(xué)顯微鏡和晶圓檢測(cè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于研究、臨床和教學(xué)領(lǐng)域。Nikon OST-3200 提供了圖像質(zhì)量和優(yōu)...
型號(hào)： OST 3200 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

多功能光學(xué)顯微鏡晶圓檢測(cè)設(shè)備掩模缺陷

2024/9/23 20:48:03314
光學(xué)顯微鏡參考價(jià)：面議
Nikon OST 3100 光學(xué)顯微鏡是一種用于半導(dǎo)體檢測(cè)的顯微鏡系統(tǒng)，專為300mm晶圓設(shè)計(jì)。高分辨率成像：它能夠提供高分辨率、三維動(dòng)態(tài)變焦和溫度控制的樣本...
型號(hào)： OST 3100 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

半導(dǎo)體檢測(cè)光學(xué)顯微鏡300mm晶圓高分辨率成像三維動(dòng)態(tài)變焦

2024/9/23 20:45:50393
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測(cè)儀是一種先進(jìn)的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和光伏產(chǎn)業(yè)。該設(shè)備具備多種尖duan技術(shù)，能夠提供高精...
型號(hào)： THERMA-WA... 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

THERMA-WAVE TP 630晶圓測(cè)試和計(jì)量紅外激光掃描光學(xué)器件雙色高溫計(jì)紅外成像技術(shù)和分析技術(shù)

2024/9/23 20:43:40414
光學(xué)計(jì)量?jī)x 參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學(xué)計(jì)量?jī)x是一種先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備，主要用于精確測(cè)量半導(dǎo)體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統(tǒng)采...
型號(hào)： Spectra-S... 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量CD測(cè)量和形狀測(cè)量自動(dòng)非接觸式2D（高度）測(cè)量非接觸式計(jì)量工具缺陷審查

2024/9/23 20:42:06300
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測(cè)儀是一款先進(jìn)的半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)及研發(fā)領(lǐng)域。該設(shè)備具有高精度和可重復(fù)性的特點(diǎn)，能夠提供精...
型號(hào)： Puma 9100 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

半導(dǎo)體晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備自動(dòng)化樣品處理能力微米級(jí)測(cè)量暗場(chǎng)缺陷檢測(cè)高精度和可重復(fù)性

2024/9/23 20:40:21332
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測(cè)儀是一款優(yōu)良的晶圓檢測(cè)和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造業(yè)。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak&t...
型號(hào)： Puma 9000 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓檢測(cè)和計(jì)量Streak™暗視野成像技術(shù)高分辨率成像光學(xué)掃描高速成像技術(shù)

2024/9/23 20:38:50536
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測(cè)儀是一款優(yōu)良的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體行業(yè)的高精度檢測(cè)。該系統(tǒng)采用超紫外（UV）模式匹配技術(shù)和最新一代的...
型號(hào)： AIT XUV 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓測(cè)試和計(jì)量超紫外（UV）模式1/10000毫米大小激光掃描雙暗場(chǎng)光學(xué)檢查

2024/9/23 20:37:04360
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測(cè)儀是一款功能強(qiáng)大且高效的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備，通過其先進(jìn)的檢測(cè)技術(shù)、自動(dòng)化功能和模塊化設(shè)計(jì)，能夠顯著提升半導(dǎo)體制造過程...
型號(hào)： AIT XP 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

圖案化晶圓晶圓測(cè)試和計(jì)量暗場(chǎng)顯微鏡技術(shù)缺陷檢測(cè)掩模

2024/9/23 20:34:54365
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測(cè)儀是一種先進(jìn)的晶圓測(cè)試和計(jì)量系統(tǒng)，專為半導(dǎo)體行業(yè)設(shè)計(jì)。該系統(tǒng)具有多種功能和特點(diǎn)，使其在晶圓缺陷檢測(cè)和過程控制方面表現(xiàn)...
型號(hào)： AIT II 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓測(cè)試和計(jì)量200mm、300mm甚至450mm雙暗場(chǎng)檢查工具SECS/GEM通信接口缺陷檢查

2024/9/23 20:32:34384
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測(cè)儀是一種用于檢測(cè)圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng)。該系統(tǒng)配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓，并具備自動(dòng)...
型號(hào)： AIT I 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

圖案化晶圓表面缺陷6英寸（150毫米）8英寸（200毫米）自動(dòng)對(duì)焦雙暗場(chǎng)檢查

2024/9/23 20:30:30321
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor 2351 晶圓檢測(cè)儀是一種先進(jìn)的晶圓和掩模檢測(cè)系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。該系統(tǒng)具備多種功能，包括高分辨率成像、自動(dòng)化分析以及專門的缺...
型號(hào)： 2351 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓檢測(cè)儀KLA-Tencor掩模檢測(cè)系統(tǒng)缺陷檢測(cè)200mm晶圓尺寸

2024/9/23 20:28:10397
晶圓檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor 2135 晶圓檢測(cè)儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測(cè)系統(tǒng)，具有多種先進(jìn)技術(shù)和高靈敏度成像功能。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：用途：主要用于圖案化晶...
型號(hào)： 2135 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

晶圓檢測(cè)儀KLA-Tencor晶圓檢測(cè)系統(tǒng)缺陷檢測(cè)晶片表面映射

2024/9/23 20:25:59327
顆粒檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測(cè)儀是一款先進(jìn)的掩模和晶圓檢測(cè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測(cè)與分類。該系統(tǒng)采用先進(jìn)的...
型號(hào)： SP2 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

顆粒檢測(cè)儀晶圓檢測(cè)KLA-Tencor缺陷檢測(cè)晶圓檢測(cè)儀

2024/9/23 20:23:34522
顆粒檢測(cè)儀參考價(jià)：面議
KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測(cè)儀是一種用于晶圓檢測(cè)和計(jì)量的系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造領(lǐng)域。該設(shè)備由KLA-Tencor公司生產(chǎn)，具有多種功能和特...
型號(hào)： SFS6420 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

顆粒檢測(cè)儀KLA-Tencor晶圓檢測(cè)表面分析計(jì)量

2024/9/23 20:21:29338
橢圓偏光儀參考價(jià)：面議
RUDOLPH S3000A 橢圓偏光儀是一種高性能的橢圓偏光計(jì)，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：波長(zhǎng)：該設(shè)備配備532nm的激光源。樣品尺寸：適用...
型號(hào)： S3000A 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

橢圓偏光儀Rudolph Technologies魯?shù)婪蚣夹g(shù)12英寸晶圓薄膜

2024/9/23 20:19:34315
薄膜厚度測(cè)試儀參考價(jià)：面議
Rudolph MP300 薄膜厚度測(cè)試儀是一種高性能的晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造行業(yè)。以下是其詳細(xì)規(guī)格參數(shù)：類型：晶圓測(cè)試和計(jì)量設(shè)備。用途：用于...
型號(hào)： MP-300 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

薄膜厚度測(cè)試Rudolph Technologies魯?shù)婪?/span>晶圓測(cè)試計(jì)量設(shè)備Cu薄膜厚度測(cè)量

2024/9/23 20:17:10395
薄膜厚度測(cè)試儀參考價(jià)：面議
Rudolph MP200薄膜厚度測(cè)試儀是一款由Rudolph Technologies制造的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備型號(hào)：Rudolph MP200 。制造商：Rud...
型號(hào)： MP-200 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

薄膜厚度晶圓測(cè)試Rudolph Technologies魯?shù)婪蚣夹g(shù)計(jì)量系統(tǒng)晶圓大小: 8“

2024/9/23 20:15:30308
掃描電子顯微鏡參考價(jià)：面議
Applied Materials CX 200 掃描電子顯微鏡設(shè)備概述型號(hào): SEMVision CX 200制造商: Applied Materials應(yīng)用...
型號(hào)： CX 200 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商所在地：深圳市對(duì)比

Applied Materials掃描電子顯微鏡光學(xué)檢查機(jī)器0.2 NA光學(xué)系統(tǒng)半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備

2024/9/23 20:13:20487

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